Name: Gold Plated Spring Test Probe with 9mm Total Length 6.5mm Tube Length and 2.5mm Needle for PCB Testing
Brand: SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD.
Price: 999 USD
Availability: InStock

Do domu > produkty > Sondy testowe Spring >

Gold Plated Spring Test Probe with 9mm Total Length 6.5mm Tube Length and 2.5mm Needle for PCB Testing

9mm Total Length Spring Test Probe

6.5mm Tube Length Pogo Pin

2.5mm Needle PCB Test Pin

Miejsce pochodzenia:

CHINY

Nazwa handlowa:

WINNER

Orzecznictwo:

ISO9100

Skontaktuj się z nami

Poproś o wycenę

Gold Plated Spring Test Probe with 9mm Total Length 6.5mm Tube Length and 2.5mm Needle for PCB Testing

Szczegóły produktu

Nazwa produktu:

Sonda testowa

Gwarancja:

12 miesięcy, 1 rok

OEM/ODM:

zamówienie mile widziane

Produkt:

W magazynie

Dostępność:

Dostępne niestandardowe rozmiary

Powłoka:

Złoto

Mierniki długości:

500/1000

Podkreślić:

9mm Total Length Spring Test Probe

6.5mm Tube Length Pogo Pin

2.5mm Needle PCB Test Pin

Warunki płatności i wysyłki

Minimalne zamówienie

1PC

Cena

999

Szczegóły pakowania

Pakowanie neutrialne lub z logo OEM

Czas dostawy

5-8 dni roboczych

Zasady płatności

L/C, Western Union, T/T.

Możliwość Supply

100 000 rolek miesięcznie

ZAŁĄCZONE PRODUKTY

Gold Plated Spring Test Probe with 9mm Total Length 6.5mm Tube Length and 2.5mm Needle for PCB Testing

Najlepszą cenę

Złote sondy do próby sprężynowej ICT FCT do płyt obwodowych serii GKS-100

Najlepszą cenę

Skontaktuj się z nami

Skontaktuj się teraz

Opis produktu

Gold Plated Spring Loaded Thimble Pogo Pins Probes Header Target Connector Through Hold PCB Test Pin

Product Features

High quality material: Copper material with gold plating, smooth surface finish enhances mechanical properties
Stable structure: Flat bottom design for easy welding and reliable conductive connections
Durable construction: High hardness and good toughness for extended service life
Precise dimensions: Total length: 9mm | Tube length: 6.5mm | Needle: 2.5mm
Wide applications: Ideal for semiconductor devices, mobile phones, communications, automotive, aerospace and other precision electronic connections

Test Probe Selection Guide

While test probes are available from many manufacturers, they share similar design constraints. The most critical selection factor is choosing the appropriate tip style for your application.

Common tip configurations include: