Name: Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications
Brand: SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD.
Price: 999 USD
Availability: InStock

Do domu > produkty > Sondy testowe Spring >

Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications

Gold Plated Spring Test Probe

Ultra-Fine Precision BGA Testing Probe

Customizable Tip Styles Semiconductor Test Pin

Miejsce pochodzenia:

Chiny

Nazwa handlowa:

WINNER

Orzecznictwo:

ISO9100

Skontaktuj się z nami

Poproś o wycenę

Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications

Szczegóły produktu

Nazwa produktu:

sprężynowa sonda testowa

beczka:

PB, złocisty

Dolny tłok:

BeCu/SK4, pozłacany

GÓRNY Tłok:

Stop Pd/nie platerowany

Wiosna:

SWPB(SUS)/pozłacane

Dostępność:

Dostępne niestandardowe rozmiary

Powłoka:

Złoto

Aktualna ocena:

Opór kontaktowy:

Maks. 100 mohm

Przepustowość łącza:

-0,17 dB przy 19,6 GHz

indukcyjność:

1,25 nH

Captance:

1,61 pF

Pełny udar:

1,00 mm

Udar znamionowy:

0,65 mm

Siła Wiosny:

30 gramów przy średnicy 65 mm

Trwałość mechaniczna przekracza:

200k

Podkreślić:

Gold Plated Spring Test Probe

Ultra-Fine Precision BGA Testing Probe

Customizable Tip Styles Semiconductor Test Pin

Warunki płatności i wysyłki

Minimalne zamówienie

3000pcs

Cena

999

Szczegóły pakowania

Pakowanie neutrialne lub z logo OEM

Czas dostawy

5-8 dni roboczych

Zasady płatności

Akredytywa, Western Union, T/T

Możliwość Supply

100 000 rolek miesięcznie

ZAŁĄCZONE PRODUKTY

Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications

Najlepszą cenę

China Supplier ICT test probe P048

Najlepszą cenę

CHINA Supply YF-100 Brass Material Spring Contact Probe Pin

Najlepszą cenę

Ceny bezpośrednie z fabryki

Najlepszą cenę

Skontaktuj się z nami

Skontaktuj się teraz

Opis produktu

High Efficiency BGA Testing Probes

Precision spring-loaded semiconductor test pins designed for reliable performance in demanding testing applications.

Key Product Features

Ultra-Fine Precision: 0.11 mm plunger and 0.15 mm barrel for micro-pitch PCB pads, IC leads, flex circuits, and semiconductor testing
High Conductivity Gold Plating: Gold-plated plunger and barrel ensure low contact resistance and stable signal transmission
Multiple Tip Styles: Available in B tip (60° cone), U tip, D tip, and fully customized geometries
Durable Spring Structure: Stainless steel spring (SUS material) provides stable working stroke and reliable contact force
Custom Manufacturing: OEM/ODM accepted with fast delivery from our factory

Production Specifications

Product Images

Detailed Component Illustration

Comparison of different test probe tip types and configurations

Customization Options

SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. offers comprehensive customization for our brass barrel stainless steel spring test probes:

Custom diameters to match your specific requirements
Custom plating thicknesses for optimal conductivity and durability
Custom mechanical specifications tailored to your application

All products include material traceability documentation and certificate of analysis for quality assurance. Contact us to request samples or a quotation for your specific application requirements.

Manufacturing Process

Our probe manufacturing facility

Quality control inspection

Packaged probes ready for shipment

Znaków：

Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications

Gold Plated Spring Test Probe

Ultra-Fine Precision BGA Testing Probe

Customizable Tip Styles Semiconductor Test Pin

Gold Plated Spring Test Probe

Ultra-Fine Precision BGA Testing Probe

Customizable Tip Styles Semiconductor Test Pin

Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications

China Supplier ICT test probe P048

CHINA Supply YF-100 Brass Material Spring Contact Probe Pin

Ceny bezpośrednie z fabryki

Złote druty wolframowe Elektronika

Badania i rozwój drutu wolframowego 0

01 mm